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CMI900
CMI200系列
X-Strata960
X-MET3000TXR+
OSPrey800
CMI150
CM95
X-Strata980
CMI165
CMI243
CMI511
CMI563
CMI760
Avanta M(原子吸收光谱仪)
Radiant T系列(光学影像量测仪)
MRF-2.0E型树脂流动性(胶流量)测试系统
PST-F系列柔性铜箔抗剥离强度测试仪
OM-25系列长臂板厚测量仪
X-MET3000TX+
MRF-P1和MRF-P2树脂流动性取样冲模机
PST-R系列刚性铜箔抗剥离强度测试仪
GT-Ⅱ胶固化时间测定仪
FST系列层压板弯曲强度测试仪
Avanta PM(原子吸收光谱仪)
CMI700
关键字:
X荧光镀层测厚仪
用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器……,
X荧光镀层测厚仪
用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器……,,
首 页 >> 产品展示
产品名称
:CMI900
适用行业
:用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器
产品名称
:X-Strata960
适用行业
:用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器
产品名称
:X-Strata980
适用行业
:RoHS/WEEE,有害元素痕量分析,焊料合金成分分析和镀层厚度测量.
产品名称
:X-MET3000TXR+
适用行业
:各产业需要快速分析产品元素及须检验产品是否符合ROHS规范,
产品名称
:X-MET3000TX+
适用行业
:适合金属领域各种需要的定量成份分析仪
产品名称
:OSPrey800
适用行业
:OSP膜膜厚测量,全球唯一可以做到适时无损测量OSP膜厚的仪器,
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